Universal Profilometer

Vier Testmodi in einem Gerät
Nanometer-Auflösung
Vollautomatische Messung und Analyse
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Übersicht über optische 3D-Mikroskope

Hauptmerkmale

  • Kombiniert 4 Techniken in einem Messkopf
  • Automatische Berichte
  • Messen Sie jede Art von Oberfläche

Der UP-24 kombiniert 4 Bildgebungsmodi in einem Messkopf. Ein Klick schaltet automatisch zwischen den verschiedenen Bildgebungsmodi um.

Weißlichtinterferometer + „Nipkow-Disk“ Konfokalmikroskop + Dunkelfeld- + Hellfeld-3D-Mikroskop

Präzise, quantitativ und ISO-konform mit Nanometer-Auflösung. Darüber hinaus bietet der optische 3D-Profiler berührungslose Oberflächenmessungen vom Nanometer- bis Mikrometerbereich. Erfassen Sie bis zu 5 Millionen Datenpunkte in wenigen Sekunden. Die Kombinationstechnologie ermöglicht die einfache Analyse jeder Oberfläche.

Brauchen Sie Hilfe oder haben Sie eine Frage?

    Vier Testmodi in einem Profilometer

    Eine gründliche Analyse mit konfokaler Mikroskopie oder Weißlichtinterferometrie passt das Bild an die Bedürfnisse jeder Probe an.

    Dunkelfeldmodus

    Ermöglicht die Erkennung von Rissen an der Oberfläche mit hohem Kontrast

    Weißlicht-Interferometer-Modus

    Hochauflösende Bilder von ebenen Oberflächen

    Lambda Universal Profilometer von Rtec Instruments
    Konfokale Mikroskopie

    Messungen auf dunklen, rauen und transparenten Oberflächen möglich

    Hellfeldmodus

    2D-Profile mit hoher Auflösung und echten Farben

    Eigenschaften

    Erfassen Sie das Profil von jedem Material.

    Viele Optionen zur Auswahl.

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    Spezifikationen
    • Standard motorisierter Tisch 150×150 mm (optional 210 x 310 mm)
    • Standardrevolver, motorisierter Revolver optional
    • Vertikaler Bereich bis 100 mm
    • Auto-Stitching
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    Modelle
    • „Sigma head“ : Weißlichtinterferometrie
    • „Lambda head“ : Weißlichtinterferometrie + „Spinning-Disk“ konfokale Mikroskopie + Dunkelfeld Bildgebung
      + Hellfeld Bildgebung
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    Anwendungen
    • Rauheit
    • Volumenverschleiß
    • Stufenhöhe
    • Schichtdicke
    • Topographie

    3D-Bilder für jede Situation

    Die Kombination mehrerer optischer Techniken auf derselben Plattform ermöglicht die Messung von nahezu jeder Art von Probe mit Nanometer-Auflösung.

    Diamond surface  data using rtec 3d optical microscope
    Diamond
    sand paper image on rtec universal profiler
    Abrasive Pad
    Polymer coating data using rtec 3d optical microscope
    Polymer Coating
    Abrasive surface profilometer image using Rtec profilometer
    Rough Coated Surface
    wafer topography using optical 3d microscope
    Semiconductor Wafer
    Ink surface  data using rtec 3d optical microscope
    Ink
    wafer scan using optical 3d microscope
    Standard Sample
    Ball scar image using 3D microscope from Rtec Instruments
    Ball Scar
    via 3d data using optical 3d microscope
    Via On A Chip
    wafer using optical 3d microscope
    PCB
    pillars scan using optical 3d microscope
    Deep Via on Mems
    Penny stitched data using rtec 3d optical microscope
    Stitched Coin
    wear scar image using optical 3d microscope
    Wear Mark
    Confocal image of filter paper
    Bio Membrane
    Micro fluidic data using Rtec 3D optical microscope
    Micro Fluidic Channel
    semiconductor wafer data using 3D optical microscope
    Semicon Wafer
    Wear mark with inline profilometer on rtec instruments tribometer
    Failure Mark on Aluminum
    Scratch failure test image
    Scratch Mark
    scratch adhesion test data showing coating failure
    Coating Failure Mark
    DLC coated ball data using Rtec 3D optical microscope
    DLC Coated Ball

    Lösungen

     Das Profilometer wird in einer Vielzahl von Branchen eingesetzt.

    • Luft- und Raumfahrt
    • Automobil
    • Biomaterialien
    • Beschichtungen
    • Metalle
    • Optik und Brille
    • Polymer
    • Halbleiter
    • Arzeinmittel
    • Bildschirm

    Möchten Sie mehr erfahren?

    Kontaktieren Sie uns und fordern Sie eine Demonstration an.

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