仪器式压痕测试仪
SMT-2000 纳米压痕技术典范——集纳米精度与可靠性能于一身
SMT-2000 PiQ 纳米压痕仪是专为纳米尺度超精密力学表征而设计的新一代纳米压痕技术。其先进的 PiQ 纳米压痕头集高性能压电致动与真值力及真值深度传感于一体,确保硬度与弹性模量测量高度准确且重复性优异。自动 XYZ 电动位移台支持在全样品表面进行高通量图谱测试和精确定位。集成光学显微镜可提供详细的表面可视化观测和精确的压痕定位。上述特性使该系统成为科研和工业应用中涂层、薄膜及微尺度结构可靠测试的理想选择。
主要特点
更多相关信息

SMT‑2000 PiQ 纳米压痕仪 | 纳米压痕测试系统,旨在为先进材料研究提供精确可靠的纳米压痕测试结果。这款尖端系统作为纳米压痕测试系统,对于投资 SMT‑2000 PiQ 技术的用户而言尤为出色。该 SMT‑2000 PiQ 纳米压痕仪 | 纳米压痕测试系统能在各种实验室需求中提供一致的性能。
纳米压痕硬度与弹性模量成像
纳米压痕图谱是一种先进的力学表征技术,能够以微米至纳米级分辨率测量硬度和弹性模量等材料性能的空间分布。
通过在样品表面进行一系列精确定位的压痕网格测试,研究人员可生成详细的性能分布图,从而揭示与不同相、晶界、涂层和缺陷相关的性能变化,使得SMT‑2000 PiQ系统成为满足您所有纳米压痕测试系统需求的全面纳米压痕仪。
此外,纳米压痕图谱广泛应用于材料科学、冶金、半导体、聚合物和薄膜研究。因此,该纳米压痕仪及纳米压痕测试系统有助于更深入地理解材料性能、优化工艺过程并开发先进材料。
集成式光学显微镜
MT‑2000 系统配备集成光学显微镜,可对压痕位置进行精确可视化和定位。此外,SMT‑2000 PiQ 硬件与纳米压痕仪及强大纳米压痕测试系统功能的结合,赋予了卓越的图谱绘制能力。
高级样品可视化:测试前识别缺陷、粗糙度及微观结构
压痕精确定位:直接通过光学显微镜界面轻松选点。
对于既需要准确性又需要多功能性的实验室而言,完整的 SMT‑2000 PiQ 无疑是一款一流的纳米压痕仪,提供纳米压痕测试系统的全部功能,甚至更多。


操作简便
只需点击一下按钮,SMT‑2000 即可执行全自动压痕测试,无需任何先验经验。此外,用户可受益于先进的 SMT‑2000 PiQ,这是现代纳米压痕仪和纳米压痕测试系统部署的理想选择。同时,集成的帮助文件和直观的工作流程使新用户在数分钟内即可高效操作。
自动探针校准、方法设置和报告生成进一步确保每次测试运行都能获得准确且可重复的结果,这一完整的纳米压痕仪与纳米压痕测试系统平台为此提供了全面保障。
因此,这些特性使 SMT‑2000 成为质量控制和高级研究应用的理想解决方案。

PiQ 纳米压痕头技术
PiQ 纳米压痕头代表了新一代纳米压痕技术,专为纳米尺度超精密力学表征而设计。该系统基于专利架构,集先进驱动、真正计量学传感和创新参考系统于一体,实现了卓越的准确性、稳定性和重复性。因此,寻求尖端纳米压痕仪与纳米压痕测试系统的现代实验室将从 SMT‑2000 PiQ 解决方案中获益。
PiQ 纳米压痕头专为严苛的材料研究、薄膜分析和先进涂层表征而设计,即使在极小材料体积上也能确保可靠地测定仪器化压痕硬度(HIT)和压痕模量(EIT)。
超快压电致动
高性能压电致动器以纳米级定位精度和超快响应速度驱动纳米压痕过程。这一先进致动系统实现了精确的载荷控制和动态压痕测试,确保在多种材料上获得高度可重复的测量结果。值得注意的是,SMT‑2000 PiQ 既是纳米压痕仪,也是研究人员首选的纳米压痕测试系统。
真实力和真实深度测量
PiQ 纳米压痕头集成了独立的真值力与真值深度传感器,在整个压痕循环过程中提供持续的计量学监测。这种双传感器架构确保了高精度的载荷和位移测量,即使对于薄膜、涂层和微尺度结构也能提供可靠的力学性能数据。
总之,全球实验室选择 SMT‑2000 PiQ 以获得卓越结果,因为它在一台平台上同时集成了最先进的纳米压痕仪和功能强大的纳米压痕测试系统。
| 最大压痕载荷 | 500 mN |
|---|---|
| 载荷分辨率 | 0,015 μN |
| 载荷噪声基底 [均方根] | 1 μN |
| 最大压痕深度 | 200 μm |
| 深度分辨率 | 0.005 nm |
| 位移噪声基底 [均方根] | 0.1 nm |
| 数据采集率 | 1 MHz |
| XYZ 平台范围 | 50 × 180 × 15 mm |
| 共振频率 | 260 Hz |
| 尺寸 | 40 × 40 × 40 mm |
| 重量 | 30 公斤 |
常见问题解答
- 微米压痕:载荷较高(g–kg级),通过光学显微镜测量压痕尺寸
纳米压痕更适用于薄膜、涂层及小体积样品的测试。
