Instrumentierter Eindringtester
SMT-2000 Exzellenz in der Nanoindentation – Wo Präzision im Nanobereich auf Zuverlässigkeit trifft
Der SMT-2000 PiQ-Nanoindenter steht für eine neue Generation der Nanoindentationstechnologie, die für die hochpräzise mechanische Charakterisierung im Nanobereich entwickelt wurde. Sein fortschrittlicher PiQ-Nanoindenterkopf vereint einen leistungsstarken piezoelektrischen Antrieb mit einer präzisen Kraft- und Tiefenerfassung und gewährleistet so hochgenaue und wiederholbare Messungen der Härte und des Elastizitätsmoduls. Ein automatisierter, motorisierter XYZ-Tisch ermöglicht eine Kartierung mit hohem Durchsatz und eine präzise Positionierung über die gesamte Probenoberfläche. Das integrierte optische Mikroskop sorgt für eine detaillierte Visualisierung der Oberfläche und eine genaue Platzierung der Eindrücke. Zusammen machen diese Merkmale das System ideal für die zuverlässige Prüfung von Beschichtungen, Dünnschichten und Strukturen im Mikromaßstab sowohl in der Forschung als auch in industriellen Anwendungen.
HAUPTMERKMALE
Automatisierter motorisierter XYZ-Tisch
Das System verfügt über eine vollautomatische X–Y-Abtastung für die matrixbasierte Indentation über die gesamte Probenoberfläche. Darüber hinaus ermöglicht seine hohe Durchsatzleistung unbeaufsichtigte Tests sowie Tests über Nacht und maximiert so die Produktivität.
Mit einer Positioniergenauigkeit von ca. 1 µm gewährleistet es zudem zuverlässige und wiederholbare Ergebnisse. Darüber hinaus ermöglicht die flexible Flächenauswahl die präzise Ausrichtung auf bestimmte Bereiche für eine fortschrittliche und effiziente Materialcharakterisierung.
Integriertes optisches Mikroskop
Das SMT-2000 verfügt über ein integriertes optisches Mikroskop zur präzisen Visualisierung und Positionierung der Eindrückstellen. Es ermöglicht eine detaillierte Untersuchung von Oberflächenfehlern, Rauheit und mikrostrukturellen Merkmalen vor der Prüfung. Über die Benutzeroberfläche können Anwender die genauen Eindrückpunkte mühelos auswählen, wodurch eine exakte Platzierung sowie zuverlässige und wiederholbare Nanoindentationsmessungen gewährleistet werden.
Messung der wahren Kraft und der wahren Tiefe
Der PiQ-Nanoindenterkopf verfügt über unabhängige Sensoren zur Erfassung der tatsächlichen Kraft und der tatsächlichen Eindringtiefe und ermöglicht so eine kontinuierliche messtechnische Überwachung während des gesamten Eindringzyklus.
Diese Dual-Sensor-Architektur gewährleistet hochpräzise Belastungs- und Wegmessungen und liefert zuverlässige Daten zu den mechanischen Eigenschaften, selbst bei dünnen Schichten, Beschichtungen und Strukturen im Mikromaßstab.
Ultra-schnelle piezoelektrische Betätigung
Ein leistungsstarker piezoelektrischer Aktuator steuert den Nanoindentationsprozess mit einer Positioniergenauigkeit im Nanometerbereich und einer ultraschnellen Reaktionszeit.
Dieses fortschrittliche Antriebssystem ermöglicht eine präzise Laststeuerung und dynamische Eindringprüfungen und gewährleistet so hochgradig wiederholbare Messungen bei einer Vielzahl von Werkstoffen.
Verbesserte Messstabilität und Rauschisolierung
Das SMT-2000 verfügt über ein schallgedämmtes Gehäuse in Kombination mit einer integrierten Schwingungsdämpfung, um äußerst stabile Messbedingungen zu gewährleisten. Spezielle schwingungsdämpfende Polymerfüße minimieren äußere Störungen und reduzieren Rauschen sowie Umwelteinflüsse. Diese Konstruktion ermöglicht präzise und wiederholbare Nanoindentationsergebnisse, selbst in üblichen Laborumgebungen, in denen Schwingungen und akustische Störungen auftreten.
Mehr dazu

Der SMT-2000 PiQ Nanoindenter | Nanoindentations-Prüfsystem wurde entwickelt, um präzise und zuverlässige Nanoindentationsergebnisse für die fortgeschrittene Materialforschung zu liefern. Dieses hochmoderne System zeichnet sich als Nanoindentations-Prüfsystem besonders für Anwender aus, die in die SMT-2000 PiQ-Technologie investieren. Dieser SMT-2000 PiQ Nanoindenter | Nanoindentations-Prüfsystem bietet konsistente Leistung für vielfältige Laboranforderungen.
Nanoindentationskartierung zur Messung von Härte und Elastizitätsmodul
Die Nanoindentationskartierung ist ein fortschrittliches Verfahren zur mechanischen Charakterisierung. Dabei wird die räumliche Verteilung von Materialeigenschaften wie Härte und Elastizitätsmodul mit einer Auflösung im Mikrometer- bis Nanometerbereich gemessen.
Durch die Erstellung eines Rasters aus präzise beabstandeten Eindrücken auf der Probenoberfläche erstellen Forscher somit detaillierte Eigenschaftskarten. Diese Karten zeigen folglich Schwankungen auf, die mit verschiedenen Phasen, Korngrenzen, Beschichtungen und Defekten zusammenhängen, wodurch sich das SMT-2000 PiQ-System in einzigartiger Weise als vollwertiger Nanoindenter für alle Ihre Anforderungen an ein Nanoindentations-Prüfsystem eignet.
Darüber hinaus findet die Nanoindentationskartierung breite Anwendung in der Materialwissenschaft, der Metallurgie, der Halbleiterforschung, der Polymerforschung sowie der Dünnschichtforschung. Somit trägt dieser Nanoindenter und dieses Nanoindentations-Prüfsystem zu einem besseren Verständnis der Materialeigenschaften, zur Optimierung von Prozessen und zur Entwicklung fortschrittlicher Werkstoffe bei.
Integriertes optisches Mikroskop
Das SMT-2000-System umfasst ein integriertes optisches Mikroskop, das eine präzise Visualisierung und Positionierung der Indentationsstellen ermöglicht. Darüber hinaus bietet die Kombination der SMT-2000-PiQ-Hardware mit dem Nanoindenter und den leistungsstarken Funktionen des Nanoindentations-Prüfsystems hervorragende Kartierungsmöglichkeiten.
Erweiterte Probenvisualisierung: Untersuchen Sie die Probenoberfläche vor der Prüfung auf Defekte, Rauheit und mikrostrukturelle Merkmale.
Präzise Platzierung der Einrückung: Wählen Sie die genaue Position der Einrückung ganz einfach direkt über die Benutzeroberfläche des optischen Mikroskops aus.
Für Labore, die sowohl Präzision als auch Vielseitigkeit benötigen, ist das Komplettsystem SMT-2000 PiQ zweifellos ein erstklassiger Nanoindenter, der alle Funktionen eines Nanoindentations-Prüfsystems und noch vieles mehr bietet.


Benutzerfreundlichkeit
Mit nur einem Knopfdruck führt das SMT-2000 vollautomatische Indentationsprüfungen durch, ohne dass Vorkenntnisse erforderlich sind. Darüber hinaus profitieren Anwender von der Arbeit mit dem fortschrittlichen SMT-2000 PiQ, der idealen Wahl für den modernen Einsatz von Nanoindentern und Nanoindentations-Prüfsystemen. Zudem ermöglichen integrierte Hilfedateien und ein intuitiver Arbeitsablauf neuen Anwendern, innerhalb weniger Minuten produktiv zu arbeiten.
Die automatische Kalibrierung der Messspitze, die Einrichtung des Verfahrens und die Erstellung von Berichten gewährleisten zudem präzise und reproduzierbare Ergebnisse bei jedem Testlauf mit dieser umfassenden Plattform für Nanoindenter und Nanoindentationsprüfsysteme.
Dank dieser Eigenschaften ist das SMT-2000 somit eine ideale Lösung sowohl für die Qualitätskontrolle als auch für anspruchsvolle Forschungsanwendungen.

PiQ-Nanoindenter-Kopf-Technologie
Der PiQ-Nanoindenter-Kopf steht für eine neue Generation der Nanoindentationstechnologie, die für die hochpräzise mechanische Charakterisierung im Nanobereich entwickelt wurde. Das auf einer patentierten Architektur basierende System vereint fortschrittliche Antriebstechnik, echtes messtechnisches Sensoring und ein innovatives Referenzierungssystem, um außergewöhnliche Genauigkeit, Stabilität und Wiederholbarkeit zu gewährleisten . Aus diesem Grund profitieren moderne Labore, die auf der Suche nach einem hochmodernen Nanoindenter und einem Nanoindentations-Prüfsystem sind, von der SMT-2000 PiQ-Lösung.
Der PiQ-Nanoindenterkopf wurde speziell für die anspruchsvolle Materialforschung, die Dünnschichtanalyse und die hochpräzise Charakterisierung von Beschichtungen entwickelt und gewährleistet eine zuverlässige Bestimmung der instrumentierten Härte (HIT) und des Eindrückmoduls (EIT) selbst bei extrem kleinen Materialvolumina.
Ultra-schnelle piezoelektrische Betätigung
Ein leistungsstarker piezoelektrischer Aktuator steuert den Nanoindentationsprozess mit einer Positioniergenauigkeit im Nanometerbereich und einer ultraschnellen Reaktionszeit. Dieses fortschrittliche Antriebssystem ermöglicht eine präzise Laststeuerung und dynamische Indentationsprüfungen und gewährleistet so hochgradig wiederholbare Messungen bei einer Vielzahl von Materialien. Insbesondere zeichnet sich das SMT-2000 PiQ sowohl als Nanoindenter als auch als das bevorzugte Nanoindentations-Prüfsystem für Forscher aus.
Messung der wahren Kraft und der wahren Tiefe
Der PiQ-Nanoindenterkopf verfügt über unabhängige Sensoren zur Erfassung der tatsächlichen Kraft und der tatsächlichen Eindringtiefe und ermöglicht so eine kontinuierliche messtechnische Überwachung während des gesamten Indentationszyklus. Diese Dual-Sensor-Architektur gewährleistet hochpräzise Messungen von Belastung und Weg und liefert zuverlässige Daten zu den mechanischen Eigenschaften, selbst bei dünnen Schichten, Beschichtungen und Strukturen im Mikromaßstab.
Zusammenfassend lässt sich sagen, dass sich Labore weltweit für den SMT-2000 PiQ entscheiden, um hervorragende Ergebnisse zu erzielen, da er sowohl als hochmoderner Nanoindenter als auch als robustes Nanoindentations-Prüfsystem auf einer einzigen Plattform dient.

| Maximale Eindringkraft | 500 mN |
|---|---|
| Auflösung laden | 0,015 μN |
| Grundrauschen der Last [rms] | 1 μN |
| Maximale Eindringtiefe | 200 μm |
| Auflösung in der Tiefe | 0,005 nm |
| Grundrauschen in der Tiefe [rms] | 0,1 nm |
| Datenerfassungsrate | 1 MHz |
| XYZ-Bühne | 50 × 180 × 15 mm |
| Resonanzfrequenz | 260 Hz |
| Größe | 40 × 40 × 40 cm |
| Gewicht | 30 kg |
