Testeur d'indentation instrumenté
SMT-2000 L'excellence en nanoindentation – Quand la précision à l'échelle nanométrique allie fiabilité et précision
Le nanoindenteur PiQ SMT-2000 incarne une nouvelle génération de technologie de nanoindentation conçue pour une caractérisation mécanique ultraprécise à l’échelle nanométrique. Sa tête de nanoindentation PiQ de pointe intègre un système d’actionnement piézoélectrique haute performance associé à une détection précise de la force et de la profondeur, garantissant ainsi des mesures de dureté et de module d’élasticité extrêmement précises et reproductibles. Une platine motorisée XYZ automatisée permet une cartographie à haut débit et un positionnement précis sur l’ensemble de la surface de l’échantillon. Le microscope optique intégré offre une visualisation détaillée de la surface et un placement précis de l’indentation. Ensemble, ces caractéristiques font de ce système la solution idéale pour des essais fiables sur des revêtements, des films minces et des structures à micro-échelle, tant dans le domaine de la recherche que dans les applications industrielles.
CARACTÉRISTIQUES PRINCIPALES
Platine motorisée XYZ automatisée
Le système intègre une cartographie X-Y entièrement automatisée pour l'indentation matricielle sur l'ensemble de la surface des échantillons. De plus, sa capacité à haut débit permet de réaliser des essais sans surveillance et pendant la nuit, optimisant ainsi la productivité.
Avec une précision de positionnement d'environ 1 µm, il garantit en outre des résultats fiables et reproductibles. Par ailleurs, la sélection flexible de la zone d'analyse permet de cibler avec précision des régions spécifiques pour une caractérisation avancée et efficace des matériaux.
Microscope optique intégré
Le SMT-2000 est équipé d'un microscope optique intégré permettant une visualisation et un positionnement précis des emplacements d'indentation. Il permet une inspection détaillée des défauts de surface, de la rugosité et des caractéristiques microstructurales avant le test. Les utilisateurs peuvent facilement sélectionner les points d'indentation exacts via l'interface, ce qui garantit un positionnement précis ainsi que des mesures de nanoindentation fiables et reproductibles.
Mesure de la force réelle et de la profondeur réelle
La tête de nanoindentation PiQ intègre des capteurs indépendants de force réelle et de profondeur réelle, assurant un suivi métrologique continu tout au long du cycle d'indentation.
Cette architecture à double capteur garantit des mesures de charge et de déplacement d'une grande précision, fournissant ainsi des données fiables sur les propriétés mécaniques, même pour les films minces, les revêtements et les structures à l'échelle microscopique.
Actionnement piézoélectrique ultra-rapide
Un actionneur piézoélectrique haute performance pilote le processus de nanoindentation avec une précision de positionnement à l'échelle nanométrique et un temps de réponse ultra-rapide.
Ce système d'actionnement de pointe permet un contrôle précis de la charge et la réalisation d'essais d'indentation dynamiques, garantissant ainsi des mesures hautement reproductibles sur une large gamme de matériaux.
Stabilité de mesure améliorée et isolation contre le bruit
Le SMT-2000 est doté d'un boîtier insonorisé associé à un système intégré d'amortissement des vibrations afin de garantir des conditions de mesure extrêmement stables. Des pieds en polymère spéciaux, absorbants et anti-vibrations, minimisent les perturbations externes, réduisant ainsi le bruit et l'influence de l'environnement. Cette conception permet d'obtenir des résultats de nanoindentation précis et reproductibles, même dans des environnements de laboratoire classiques où des vibrations et des interférences acoustiques sont présentes.
En savoir plus sur
| Charge d'indentation maximale | 500 mN |
|---|---|
| Résolution de la charge | 0,015 μN |
| Bruit de fond de la charge [rms] | 1 μN |
| Profondeur maximale d'indentation | 200 μm |
| Résolution en profondeur | 0,005 nm |
| Bruit de fond [rms] | 0,1 nm |
| Taux d'acquisition des données | 1 MHz |
| Stade XYZ | 50 × 180 × 15 mm |
| Fréquence de résonance | 260 Hz |
| Taille | 40 x 40 x 40 cm |
| Poids | 30 kg |
