Appareil de mesure spectrale de l'épaisseur des films

Le mesureur spectral d’épaisseur de film de Rtec-Instruments permet une mesure rapide, précise et sans contact de l’épaisseur des films minces grâce à la technologie de réflectance spectrale.

En analysant la réflexion de la lumière en fonction de la longueur d’onde au niveau des interfaces des couches minces, le système détermine avec précision l’épaisseur et les propriétés optiques du film sans endommager l’échantillon.

Il est idéal pour les revêtements monocouches et multicouches utilisés dans les applications liées aux semi-conducteurs, à l’optique, à l’électronique, au photovoltaïque et aux matériaux avancés, offrant des mesures rapides et reproductibles pour le contrôle qualité et la recherche.