光谱膜厚测定仪

Rtec-Instruments 光谱薄膜厚度测试仪采用光谱反射率技术，可对薄膜厚度进行快速、准确且非接触式的测量。

通过分析薄膜界面处光的波长依赖性反射特性，该系统可在不损伤样品的情况下精确测定薄膜厚度和光学性能。

该仪器非常适合用于半导体、光学、电子、光伏及先进材料领域的单层和多层涂层，可为质量控制和研究提供快速、可重复的测量结果。