Spektrales Schichtdickenmessgerät

Das Spektral-Schichtdickenmessgerät von Rtec-Instruments ermöglicht eine schnelle, genaue und berührungslose Messung der Dicke dünner Schichten mithilfe der Spektralreflexionstechnologie.

Durch die Analyse der wellenlängenabhängigen Reflexion von Licht an Dünnschichtgrenzflächen ermittelt das System präzise die Schichtdicke und die optischen Eigenschaften, ohne die Probe zu beschädigen.

Es eignet sich ideal für ein- und mehrschichtige Beschichtungen, die in den Bereichen Halbleitertechnik, Optik, Elektronik, Photovoltaik und moderne Werkstoffe zum Einsatz kommen, und bietet schnelle, wiederholbare Messungen für die Qualitätskontrolle und Forschung.