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UP-2000 白色干渉計

手頃な価格 高い精度

全自動光学顕微鏡 ナノメートル解像度の高速度カメラ

Rtec Instruments 3D光学顕微鏡の動作

プレミアム・マイクロスコープ

柔軟な垂直範囲、クロスローラーの高精度ステージ、剛性の高い設計、追跡可能な値により、UP-2000 白色干渉計は、あらゆるサンプルの粗さ、ステップ高さ、膜厚、およびトポグラフィー分析を測定するための理想的な選択肢です。

ハイスピードカメラ

200FPSの業界をリードするカメラ。 迅速なサブナノメートル精度の測定。

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Z方向 最高分解能

高度な最新世代のエンコーダーは、倍率に関係なく非接触のZ解像度を提供します。

自動画像ステッチ

ワンクリックの自動ステッチでサンプル全体を簡単に分析します。

強力な分析ソフトウェア

正確で使いやすく、自動、定量的、およびナノメートルの解像度でISO準拠。

非接触形状測定における 最高の解像度

白色光干渉法技術を使用して、表面の高さの2Dおよび3Dモデルを生成します。

Rtec interferometry 3D data from white Light interferometer

白色光干渉法

位相シフト干渉

クアッドバンドLED(赤、青、緑、白)を装備し、白色干渉計モードと共焦点モードの両方を簡単に実行できます。 ワンクリックで簡単にサンプル測定が可能なため、高い経験は必要ありません。

可変焦点イメージング

異なる焦点面で撮影された一連のスライスを通じて、完全に焦点が合った最終画像が生成されます。 UP-2000白色光干渉計は、毎回鮮明な拡大画像を提供します。

3D 粗さ
コーティング不良画像

自動ステッチ

クロスローラーステージ

サンプル全体で正確なステッチを可能にする最高解像度のクロスローラーステージ。 完全な3D画像が自動的に取得されます。

Rtec Instruments 3D imaging profile software analysis

テストレシピをロードして、[start]をクリックするだけで測定します。 機器の各モーションをプログラムできます。 このソフトウェアは、比類のない安定性、精度を提供します。

解決策

幅広い業界でユニバーサル3Dプロファイラー(表面形状測定機)が広く使用されています。

  • 航空宇宙
  • 自動車
  • 生体材料
  • コーティング
  • 金属
  • 光学とメガネ
  • ポリマー
  • 半導体
  • 製薬
  • ディスプレイ

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ご質問など、お問い合わせください。

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