Halbleiter

Rtec-Instruments bietet fortschrittliche Lösungen für die Halbleiterprüfung, Oberflächencharakterisierung und mechanische Prüfung zur Bewertung von Siliziumwafern, Touchscreens, integrierten Schaltkreisen, MEMS, Leiterplatten, organischen Schichten, Dünnschichten, Beschichtungen, Displays und Geräten der Unterhaltungselektronik. Unsere vielseitigen Analysesysteme messen Härte, Haftfestigkeit, Rauheit, Schichtdicke, Kratzfestigkeit, Reibung und Verschleiß und unterstützen Hersteller sowie Forschungslabore dabei, Innovationen voranzutreiben, die Prozesskontrolle zu verbessern und ein Höchstmaß an Produktqualität, Ausbeute und Zuverlässigkeit zu gewährleisten.