UP-2000

Profilomètre optique 3D

UP-2000 Interféromètre à lumière blanche à grande vitesse

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L’UP-2000 est un interféromètre à lumière blanche entièrement automatique et un profileur optique 3D de pointe, conçu pour une caractérisation rapide, précise et sans contact des surfaces. Il permet d’effectuer des mesures à grande vitesse, à une résolution inférieure au nanomètre, pour l’analyse de la rugosité de surface, de la hauteur des gradins, de l’épaisseur de film et de la topographie, ce qui en fait l’outil idéal pour les applications exigeantes de recherche, de développement et de contrôle qualité. Son fonctionnement intuitif permet aux utilisateurs d’effectuer des mesures précises avec une configuration minimale, améliorant ainsi la productivité et la répétabilité. Conçu pour répondre aux normes de métrologie de surface conformes aux normes ISO, l’UP-2000 fournit des données fiables et à haute résolution pour un large éventail de matériaux et de secteurs d’activité, prenant en charge aussi bien les inspections de routine que les flux de travail analytiques avancés avec une précision exceptionnelle.

CARACTÉRISTIQUES PRINCIPALES

Caméra couleur haute vitesse pour une acquisition rapide

L'UP-2000 est équipé d'une caméra haute vitesse de 200 images par seconde, à la pointe de la technologie, permettant d'effectuer rapidement des mesures par interférométrie en lumière blanche (WLI) et par interférométrie à décalage de phase (PSI). Ces fréquences d'images élevées réduisent considérablement les temps de balayage tout en conservant une précision inférieure au nanomètre, offrant ainsi une métrologie de surface 3D rapide, précise et fiable pour les applications de recherche, de fabrication et de contrôle qualité.

Deux modes de mesure : WLI et PSI

L'UP-2000 est équipé d'une source lumineuse LED quadribande offrant un éclairage rouge, bleu, vert et blanc, pour une interférométrie en lumière blanche (WLI) et une interférométrie à décalage de phase (PSI) optimisées. La sélection automatique de la longueur d'onde optimise le contraste de l'image sur différents matériaux, offrant ainsi une métrologie de surface 3D sans contact, rapide, précise et polyvalente, sans qu'il soit nécessaire de modifier la configuration optique.

Logiciel d'analyse conforme aux normes ISO

Il vous suffit de charger une recette de mesure et de cliquer sur « Démarrer ». L'UP-2000 mesure et génère automatiquement les rapports relatifs aux paramètres Ra, Rq, Rz (ISO 4287) et Sa, Sq, Sz (ISO 25178) directement à partir du jeu de données 3D. L'analyse automatisée, la génération de rapports en un clic et l'impression automatique des rapports (en option) rationalisent les processus de métrologie de surface, sans nécessiter d'expérience préalable en métrologie.

Assemblage automatique

L'assemblage automatique d'images en un seul clic permet de combiner de manière homogène plusieurs numérisations adjacentes pour former une seule carte de surface 3D de grande superficie. Des platines à rouleaux croisés de haute précision garantissent un positionnement précis entre les acquisitions, tandis que l'UP-2000 aligne et assemble automatiquement l'ensemble des données. Il en résulte une métrologie de surface rapide et fiable sur de grandes superficies, offrant une précision et une répétabilité exceptionnelles.

Résolution en z inférieure au nanomètre, quel que soit le grossissement

L'UP-2000 utilise des codeurs de dernière génération pour offrir une résolution verticale inférieure au nanomètre, quels que soient la plage de balayage ou le grossissement de l'objectif. La précision constante sur l'axe Z garantit des mesures de surface 3D fiables et reproductibles, quels que soient les applications, les opérateurs et les environnements de production, ce qui en fait l'outil idéal pour la métrologie de surface de précision et le contrôle qualité.

En savoir plus sur

Mode d'imagerieInterférométrie en lumière blanche
Mesure de surfaceRugosité, topographie 3D, hauteur des gradins et texture de surface
Platine XYZ motorisée150 × 200 × 150 mm
Normes internationalesISO 25178 - ISO 16610 - ISO 12781 - ISO 4287 - EUR 15178

Foire aux questions

La caméra haute vitesse de 200 images par seconde réduit considérablement les temps de balayage par rapport aux systèmes WLI classiques équipés de caméras plus lentes. Une mesure de rugosité sur un seul champ ne prend que quelques secondes. La durée des mesures assemblées sur des zones plus étendues dépend du nombre de champs, mais le processus d'assemblage automatique s'exécute sans intervention de l'opérateur une fois la recette lancée.
L'UP-2000 calcule tous les paramètres standard de rugosité de profil (Ra, Rq, Rz, Rt — ISO 4287) ainsi que les paramètres de texture de surface par zone (Sa, Sq, Sz, Ssk, Sku et autres — ISO 25178) directement à partir du jeu de données 3D. L’analyse est conforme aux normes ISO et la sélection des paramètres est configurable dans la recette de mesure.
Oui. Grâce à son fonctionnement basé sur des recettes et à la génération automatique de rapports, l'UP-2000 s'avère particulièrement pratique pour le contrôle qualité en production. Il suffit aux opérateurs de charger une recette, de placer l'échantillon et de cliquer sur « Démarrer ». Les résultats, y compris les critères de conformité, sont générés automatiquement. Aucun alignement optique ni réglage manuel de la mise au point n'est nécessaire pour les mesures de routine.
Un profilomètre à stylet de contact fait glisser une pointe en diamant sur la surface, ce qui peut rayer les matériaux tendres et laisser une trace de mesure. L'interféromètre à lumière blanche UP-2000 effectue ses mesures sans toucher l'échantillon, préservant ainsi la surface. Il capture également une carte de surface 3D complète plutôt qu'une simple ligne de profil, offrant ainsi une caractérisation plus complète de la surface. Les paramètres de rugosité surfacique (Sa, Sq) sont de plus en plus souvent spécifiés dans les normes de qualité, parallèlement aux paramètres de profil (Ra, Rq).
Si vous avez besoin de recourir à la microscopie confocale, à la détection de défauts en champ sombre ou à la mesure de surfaces transparentes et à pente raide, l'UP-3000 est le modèle supérieur. Il ajoute à la fonctionnalité WLI la microscopie confocale à disque rotatif, le champ sombre, deux caméras et un éclairage LED à 4 couleurs. Pour les échantillons de grande taille (300 × 300 mm), la mesure intégrée de l'épaisseur de film, l'AFM et le Raman, l'UP-5000 constitue le choix approprié.
L'interférométrie en lumière blanche (WLI) effectue un balayage vertical à travers le foyer tout en enregistrant la cohérence des franges, ce qui la rend efficace pour les surfaces présentant une rugosité modérée (Ra pouvant atteindre plusieurs micromètres). L’interférométrie à déphasage (PSI) analyse la phase d’un motif d’interférence fixe, offrant la meilleure résolution en Z sur des surfaces très lisses (Ra inférieur à environ 50 nm). L’UP-2000 prend en charge ces deux modes sans modification matérielle : le logiciel sélectionne le mode WLI ou PSI en fonction de la recette de mesure.
Un interféromètre à lumière blanche est un instrument optique sans contact qui mesure la topographie d'une surface à l'aide de l'interférence de lumière blanche à large bande. Un séparateur de faisceau divise l'éclairage en un faisceau de mesure dirigé vers l'échantillon et un faisceau de référence réfléchi par un miroir de référence plat. Lorsque les deux faisceaux se recombinent, ils créent un motif d’interférence dont la position des franges code la hauteur de la surface. En balayant verticalement tout en enregistrant les franges, l’instrument génère une carte de hauteur 3D de la surface. Cette méthode offre une résolution verticale inférieure au nanomètre sans toucher l’échantillon, ce qui la rend adaptée aux surfaces délicates, finies ou sensibles à la contamination.
L'UP-2000 mesure la rugosité de surface (Ra, Rq, Sa, Sq et paramètres associés), la hauteur des gradins, la profondeur et le volume des traces d'usure, ainsi que la topographie 3D de la surface. Il prend en charge à la fois l'interférométrie en lumière blanche pour les surfaces présentant une rugosité modérée et l'interférométrie à décalage de phase pour les surfaces très lisses et spéculaires. La fonction « Variable Focus Imaging » étend la couverture aux échantillons présentant des variations de hauteur plus importantes. Toutes les mesures sont sans contact et conformes aux normes ISO 25178 et ISO 4287. L’UP-2000 est particulièrement bien adapté aux métaux polis, aux composants optiques, aux substrats revêtus et aux pièces de précision usinées.
L'UP-2000 est utilisé par les ingénieurs en contrôle qualité, les techniciens en métrologie et les chercheurs en science des surfaces qui ont besoin de mesures rapides, reproductibles et sans contact de la rugosité de surface et de la hauteur des marches. Il constitue un choix pratique pour les lignes de contrôle qualité en production où le débit, la facilité d'utilisation et l'indépendance des résultats par rapport à l'opérateur sont des priorités. Les laboratoires de recherche l'utilisent pour l'analyse des traces d'usure après des essais tribologiques, la vérification de l'épaisseur des films par mesure de la hauteur des gradins, ainsi que la caractérisation de la texture avant et après un traitement de surface. Parmi les secteurs d'activité concernés figurent l'aérospatiale, l'automobile, l'optique, les revêtements, les dispositifs biomédicaux et la fabrication de semi-conducteurs.

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