UP-2000

Perfilómetro óptico 3D

UP-2000 Interferómetro de luz blanca de alta velocidad

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El UP-2000 es un interferómetro de luz blanca totalmente automático y un perfilómetro óptico 3D avanzado, diseñado para la caracterización rápida, precisa y sin contacto de superficies. Ofrece mediciones a alta velocidad y con precisión subnanométrica para el análisis de la rugosidad superficial, la altura de escalones, el espesor de capas y la topografía, lo que lo hace ideal para aplicaciones exigentes de investigación, desarrollo y control de calidad. Su funcionamiento intuitivo te permite realizar mediciones precisas con una configuración mínima, lo que mejora la productividad y la repetibilidad. Diseñado para cumplir con las normas de metrología de superficies conforme a la ISO, el UP-2000 proporciona datos fiables y de alta resolución para una amplia gama de materiales e industrias, y es compatible tanto con inspecciones rutinarias como con flujos de trabajo analíticos avanzados con una precisión excepcional.

CARACTERÍSTICAS PRINCIPALES

Cámara a alta velocidad en color para una captura rápida

El UP-2000 cuenta con una cámara de alta velocidad de 200 fps, líder en el sector, para realizar mediciones rápidas mediante interferometría de luz blanca (WLI) e interferometría de desplazamiento de fase (PSI). Las altas velocidades de fotogramas reducen significativamente los tiempos de escaneo sin perder precisión subnanométrica, lo que te ofrece una metrología de superficies 3D rápida, precisa y fiable para aplicaciones de investigación, fabricación y control de calidad.

Modos de medición duales: WLI y PSI

El UP-2000 cuenta con una fuente de luz LED de cuatro bandas con iluminación roja, azul, verde y blanca para optimizar la interferometría de luz blanca (WLI) y la interferometría de desplazamiento de fase (PSI). La selección automática de la longitud de onda maximiza el contraste de la imagen en distintos materiales, lo que permite una metrología de superficies 3D sin contacto rápida, precisa y versátil sin necesidad de cambiar la configuración óptica.

Software de análisis conforme a las normas ISO

Solo tienes que cargar una receta de medición y hacer clic en «Iniciar». El UP-2000 mide y genera automáticamente los valores de Ra, Rq, Rz (ISO 4287) y Sa, Sq, Sz (ISO 25178) directamente a partir del conjunto de datos 3D. El análisis automatizado, la generación de informes con un solo clic y la impresión automática opcional de informes agilizan los procesos de metrología de superficies, sin que se necesite experiencia previa en metrología.

Unión automática

La unión automática de imágenes con un solo clic combina a la perfección varios escaneos adyacentes en un único mapa de superficie 3D de gran superficie. Las plataformas de rodillos cruzados de alta precisión garantizan un posicionamiento exacto entre cada adquisición, mientras que el UP-2000 alinea y ensambla automáticamente el conjunto completo de datos. El resultado es una metrología de superficies de gran superficie rápida y fiable, con una precisión y repetibilidad excepcionales.

Resolución Z subnanométrica a cualquier aumento

El UP-2000 utiliza codificadores de última generación para ofrecer una resolución vertical subnanométrica, independientemente del rango de escaneo o del aumento del objetivo. La precisión constante en el eje Z garantiza mediciones de superficies 3D fiables y repetibles en diferentes aplicaciones, con distintos operadores y en diversos entornos de producción, lo que lo convierte en la opción ideal para la metrología de superficies de precisión y el control de calidad.

Más información sobre

UP-2000 high-performance White Light Interferometer (WLI) for non-contact 3D surface metrology and precision surface measurement.

Para realizar mediciones precisas de superficies y análisis topográficos, el perfilómetro con interferómetro de luz blanca es una herramienta avanzada que se usa mucho en muchos sectores. De hecho, para mediciones complicadas a escala nanométrica, los ingenieros suelen recurrir a un perfilómetro con interferómetro de luz blanca para conseguir los mejores resultados.

La mayor resolución en la dirección Z con cualquier aumento

La combinación de la interferometría de luz blanca con la interferometría de desplazamiento de fase le da al UP-2000 su resolución vertical líder en su clase, independientemente del aumento del objetivo. Esta es una de las ventajas claras de un sistema de perfilómetro con interferómetro de luz blanca. Además, el escaneo vertical con referencia de encoder hace que tanto un objetivo de 5x como uno de 50x ofrezcan la misma precisión de altura subnanométrica. Por eso, los operadores eligen el aumento en función del campo de visión, nunca por la precisión.

Medición de la rugosidad superficial y la altura de los escalones

El UP-2000 calcula los parámetros de rugosidad superficial directamente a partir del conjunto de datos 3D. Los parámetros de perfil (Ra, Rq, Rz) y los parámetros de área (Sa, Sq, Sz) cumplen además con las normas ISO 4287 e ISO 25178. Además, la medición de la altura de los escalones, la textura y la forma de la superficie se cuantifican en una sola medición.

Front view of the UP-2000 3D Optical Profiler for non-contact surface metrology and white light interferometry.
Front view of the UP-2000 3D Optical Profiler for non-contact surface metrology and white light interferometry.

Topografía 3D y análisis del desgaste

El UP-2000 ofrece una topografía de superficies en 3D de alta resolución para un análisis exhaustivo del desgaste, la caracterización de superficies y la metrología dimensional. A la hora de evaluar el desgaste y la textura en superficies complejas, muchos expertos eligen un perfilómetro interferométrico de luz blanca por la precisión de los datos. Además, las herramientas de análisis avanzadas cuantifican con precisión las marcas de desgaste, la textura de la superficie, la altura de los escalones, la forma, la ondulación y la rugosidad de la superficie a partir de una única medición sin contacto. El volumen de desgaste se calcula automáticamente integrando la pérdida de material por debajo de un plano de referencia definido por el usuario. Así, esto permite evaluar con precisión los mecanismos de desgaste y el rendimiento del material. Además, se pueden generar perfiles transversales en cualquier punto para medir la profundidad, la anchura y la altura de acumulación de las marcas de desgaste con una resolución vertical subnanométrica. Por otra parte, la unión automática de imágenes combina varios escaneos en un conjunto de datos 3D de gran superficie sin fisuras. Por eso, el UP-2000 es ideal para analizar marcas de desgaste, arañazos, recubrimientos, obleas de semiconductores, componentes de precisión y superficies tratadas en investigación, desarrollo de productos y control de calidad industrial.

Facilidad de uso

El UP-2000 está diseñado para un manejo rápido e intuitivo, lo que permite a usuarios de cualquier nivel de experiencia realizar mediciones precisas de superficies en 3D con una formación mínima. Ya sea en un laboratorio o en un entorno de control de calidad, un perfilómetro interferométrico de luz blanca ofrece mediciones repetibles y basadas en normas. Solo tienes que cargar una receta de medición predefinida y hacer clic en «Iniciar» para que comience la adquisición y el análisis de datos totalmente automatizados. El software calcula automáticamente los parámetros de perfil según la norma ISO 4287 (Ra, Rq, Rz) y los parámetros de área según la norma ISO 25178 (Sa, Sq, Sz), genera informes completos y permite la impresión automática de informes para agilizar la documentación. La automatización integrada garantiza resultados consistentes y repetibles, al tiempo que reduce la variabilidad del operador. Ya sea para el control de calidad de alto rendimiento, la inspección de semiconductores, la fabricación de precisión o la investigación y el desarrollo, el UP-2000 ofrece mediciones de superficie fiables y conformes a las normas, con una velocidad y facilidad de uso excepcionales.

Front view of the UP-2000 3D Optical Profiler for non-contact surface metrology and white light interferometry.
Modo de imagenInterferometría de luz blanca
Medición de superficiesRugosidad, topografía 3D, altura de escalón y textura de la superficie
Plataforma XYZ motorizada150 × 200 × 150 mm
Normas internacionalesISO 25178 - ISO 16610 - ISO 12781 - ISO 4287 - EUR 15178

Preguntas frecuentes

La cámara de alta velocidad de 200 FPS reduce considerablemente los tiempos de escaneo en comparación con los sistemas WLI convencionales, que cuentan con cámaras más lentas. Una sola medición de rugosidad de un campo tarda unos segundos. Las mediciones combinadas en áreas más grandes dependen del número de campos, pero el proceso de combinación automática se ejecuta sin que tengas que intervenir una vez que se inicia la receta.
El UP-2000 calcula todos los parámetros estándar de rugosidad de perfil (Ra, Rq, Rz, Rt — ISO 4287) y los parámetros de textura superficial areal (Sa, Sq, Sz, Ssk, Sku y otros — ISO 25178) directamente a partir del conjunto de datos 3D. El análisis cumple con la norma ISO y la selección de parámetros se puede configurar en la receta de medición.
Sí. El funcionamiento basado en recetas y la generación automática de informes hacen que el UP-2000 sea muy práctico para el control de calidad en producción. Los operadores cargan una receta, colocan la muestra y pulsan «Inicio». Los resultados, incluidos los criterios de aprobación o rechazo, se generan automáticamente. No hace falta ninguna alineación óptica ni ajuste manual del enfoque para las mediciones rutinarias.
Un perfilómetro de aguja de contacto arrastra una punta de diamante por la superficie, lo que puede rayar los materiales blandos y deja un artefacto de medición. El interferómetro de luz blanca UP-2000 mide sin tocar la muestra, por lo que preserva la superficie. Además, captura un mapa superficial completo en 3D en lugar de una sola línea de perfil, lo que ofrece una caracterización más completa de la superficie. Los parámetros de rugosidad superficial (Sa, Sq) se especifican cada vez más en las normas de calidad junto con los parámetros de perfil (Ra, Rq).
Si necesitas microscopía confocal, detección de defectos en campo oscuro o medir superficies transparentes y con pendientes pronunciadas, el UP-3000 es el modelo superior. A la función WLI le añade microscopía confocal de disco giratorio, campo oscuro, dos cámaras e iluminación LED de cuatro colores. Para muestras grandes (300 × 300 mm), con medición integrada del espesor de película, AFM y Raman, el UP-5000 es la opción adecuada.
La interferometría de luz blanca (WLI) realiza un barrido vertical a través del foco mientras registra la coherencia de las franjas, lo que la hace eficaz para superficies con una rugosidad moderada (Ra de hasta varios micrómetros). La interferometría de desplazamiento de fase (PSI) analiza la fase de un patrón de interferencia fijo, lo que ofrece la máxima resolución en la dirección Z en superficies muy lisas (Ra inferior a ~50 nm). El UP-2000 es compatible con ambos modos sin necesidad de cambiar el hardware: el software selecciona WLI o PSI según la receta de medición.
Un interferómetro de luz blanca es un instrumento óptico sin contacto que mide la topografía de una superficie mediante la interferencia de luz blanca de banda ancha. Un divisor de haz divide la luz de iluminación en un haz de medición dirigido hacia la muestra y un haz de referencia que se refleja en un espejo de referencia plano. Cuando los dos haces se vuelven a unir, crean un patrón de interferencia en el que la posición de las franjas indica la altura de la superficie. Al escanear verticalmente mientras registra las franjas, el instrumento genera un mapa de altura en 3D de la superficie. Este método ofrece una resolución vertical subnanométrica sin tocar la muestra, lo que lo hace ideal para superficies delicadas, acabadas o sensibles a la contaminación.
El UP-2000 mide la rugosidad superficial (Ra, Rq, Sa, Sq y parámetros relacionados), la altura de los escalones, la profundidad y el volumen de las marcas de desgaste, y la topografía superficial en 3D. Es compatible tanto con la interferometría de luz blanca para superficies de rugosidad moderada como con la interferometría de desplazamiento de fase para superficies muy lisas y especulares. La tecnología de imagen de enfoque variable amplía el alcance a muestras con mayores variaciones de altura. Todas las mediciones son sin contacto y cumplen con las normas ISO 25178 e ISO 4287. El UP-2000 es especialmente adecuado para metales pulidos, componentes ópticos, sustratos recubiertos y piezas de precisión mecanizadas.
El UP-2000 lo usan ingenieros de control de calidad, técnicos de metrología e investigadores en ciencia de superficies que necesitan mediciones rápidas, repetibles y sin contacto de la rugosidad superficial y la altura de escalón. Es una opción práctica para líneas de control de calidad en producción, donde el rendimiento, la facilidad de uso y los resultados independientes del operador son prioritarios. Los laboratorios de investigación lo utilizan para analizar marcas de desgaste tras ensayos tribológicos, verificar el espesor de capas mediante la altura de escalón y caracterizar la textura antes y después del tratamiento superficial. Entre los sectores a los que da servicio se incluyen el aeroespacial, el automovilístico, la óptica, los recubrimientos, los dispositivos biomédicos y la fabricación de semiconductores.

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