3D光学プロファイル計
当社の3D光学プロファイル計シリーズは、粗さ、表面形状、段差高さ、テクスチャ、体積、摩耗などを包括的に3D評価するための、高速かつ高解像度の非接触表面計測を実現します。
研究用途と産業用品質管理の両方を想定して設計されたこれらの汎用性の高いシステムは、幅広い材料や用途において正確な測定を提供します。
ISO 25178やASME B46.1などの国際規格に準拠した本シリーズは、航空宇宙、自動車、半導体、医療、精密製造業界における高度な表面分析をサポートします。
当社の3D光学プロファイル計シリーズは、粗さ、表面形状、段差高さ、テクスチャ、体積、摩耗などを包括的に3D評価するための、高速かつ高解像度の非接触表面計測を実現します。
研究用途と産業用品質管理の両方を想定して設計されたこれらの汎用性の高いシステムは、幅広い材料や用途において正確な測定を提供します。
ISO 25178やASME B46.1などの国際規格に準拠した本シリーズは、航空宇宙、自動車、半導体、医療、精密製造業界における高度な表面分析をサポートします。
Rtec Instrumentsの最先端ソリューションをご覧ください。当社の技術が、お客様の業務をどのように支援できるかをご確認ください。
当社の専門家にお問い合わせください